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提供掃描電鏡測(cè)試服務(wù)

2015/7/29 11:01:05  作者:上海思域化工


 提供掃描電鏡測(cè)試服務(wù):

包含形貌測(cè)試SEM,能譜掃描EDS(點(diǎn),線,面),電子背散射衍射(EBSD)。高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡,儀器型號(hào):FEI-Nova NanoSEM 450, 日立S4800。不導(dǎo)電樣品可噴金,碳(150元/次)。應(yīng)用于各種極具挑戰(zhàn)性的材料的形貌觀察、元素組成和分布測(cè)試、結(jié)構(gòu)和取向分析。如金屬、納米顆粒和粉體、納米管和納米線等各種納米材料、多孔物質(zhì)(如硅、羥基磷灰石)、 塑料電子器件、玻璃基體材料、有機(jī)材料、高分子物質(zhì)、金剛石薄膜、半導(dǎo)體截面、晶體材料、生物樣品、各類薄膜材料和截面等。

檢測(cè)費(fèi)用:形貌觀察SEM :230元/樣。能譜EDS:230元/樣。 SEM+EDS:300元/樣 
 
聯(lián)系人:李名齊  15000724704
 
 
 
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